Defect characterization of heavy ion irradiated AllnN/GaN on Si high-electron-mobility transistors

Language
Englisch
Identifier
1266293108

Contributor
Challa, S. R.
Witte, Hartmut
Schmidt, Gordon
Bläsing, Jürgen
Vega, N.
Kristukat, C.
Müller, N. A.
Debray, M. E.
Christen, J.
Dadgar, A.
Strittmatter, André

DOI
10.25673/89846
URN
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
16.09.2022, 8:56 AM CEST

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  • Challa, S. R.
  • Witte, Hartmut
  • Schmidt, Gordon
  • Bläsing, Jürgen
  • Vega, N.
  • Kristukat, C.
  • Müller, N. A.
  • Debray, M. E.
  • Christen, J.
  • Dadgar, A.
  • Strittmatter, André

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