Hochschulschrift
AlGaN-GaN HEMTs reliability : degradation modes and analysis
- Ausgabe
-
1. Aufl.
- Sprache
-
Englisch
- Umfang
-
XII, 110 S.
- Maße
-
21 cm
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2012
- ISBN
-
9783954042593
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Erschienen in
-
Innovationen mit Mikrowellen und Licht ; Bd. 23
- Schlagwort
-
Galliumnitrid
Aluminiumnitrid
HEMT
Degradation
Zuverlässigkeit
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Urheber
-
Ivo, Ponky
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Göttingen
- (wer)
-
Cuvillier
- (wann)
-
2012
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:13 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Ivo, Ponky
- Cuvillier
Entstanden
- 2012
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