Monografie

High resolution three-dimensional reciprocal space mapping of semiconductor nanostructures

Language
Englisch
Extent
S. 1682 - 1935
Identifier
997687916

Series
Physica status solidi : A, Applications and materials science; 206, No. 8, Special issue

Subject
Röntgenstrukturanalyse ; Kristallstrukturanalyse; Konferenzschrift; Aufsatzsammlung

Contributor
Stangl, Julian
Mariager, Simon O.

Table of contents
Rights
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Last update
16.08.2023, 6:25 PM CEST

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