Hochschulschrift

Electronic properties of thin film semiconductor interfaces

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
II, 144 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Darmstadt, Techn. Univ., Habil.-Schr., 2003

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Halbleitergrenzfläche
Elektronische Eigenschaft

Urheber
Klein, Andreas

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:22 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Klein, Andreas

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