Hochschulschrift
Electronic properties of thin film semiconductor interfaces
- Sprache
-
Englisch
- Umfang
-
II, 144 S.
- Maße
-
30 cm
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Darmstadt, Techn. Univ., Habil.-Schr., 2003
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Schlagwort
-
Halbleitergrenzfläche
Elektronische Eigenschaft
- Klassifikation
-
Physik
- Urheber
-
Klein, Andreas
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:22 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Klein, Andreas
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