Monografie

Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications

Sprache
Englisch
Umfang
XV, 507 S.
ISBN
978-3-527-26884-9
Identifier
901237094

Thema
Sekundärionen-Massenspektrometrie ; Elektronenmikroskopie ; Elektronenstrahltesten ; Elektronenstrahlmikroanalyse

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Letzte Aktualisierung
15.04.2024, 08:44 MESZ

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