Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

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Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540150503
3540150501
9780387150505
0387150501
Dimensions
25 cm
Extent
VIII, 300 S.
Language
Deutsch
Notes
154 Ill. u. graph. Darst.
Mit 154 Abb. u. 20 Tab. - Literaturverz. S. 289 - 294

Keyword
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Auger-Spektroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Oberfläche
Auger-Elektronenspektroskopie
Photoelektronenspektroskopie
Massenspektroskopie
Oberfläche
Auger-Spektroskopie
Photoelektronenspektroskopie
Massenspektrometrie

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo
(who)
Springer
(when)
1986
Creator

Table of contents
Rights
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Last update
11.03.2025, 11:54 AM CET

Data provider

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Time of origin

  • 1986

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