Monografie

Quantitative Tiefenprofilanalyse mit der Elektronenstrahlmikrosonde : Entwicklung der Technik und Untersuchungen zur Diffusion von Gallium in ZnSe/GaAs

Ausgabe
Als Ms. gedr
Sprache
Deutsch
Umfang
IX, 100 S.
Anmerkungen
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
ISBN
978-3-18-339908-6
Identifier
941549224

Reihe
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 08, Mess-, Steuerungs- und Regelungstechnik; Nr. 399

Thema
Zinkselenid ; Galliumarsenid ; Dünne Schicht ; Gallium ; Diffusion ; Elektronenstrahlmikroanalyse ; Hochschulschrift

Beteiligte Personen und Organisationen
Ammann, Norbert

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
15.04.2024, 08:44 MESZ

Objekttyp

  • Monografie

Beteiligte

  • Ammann, Norbert

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