On the chemical composition of TiAlN thin films : Comparison of ion beam analysis and laser-assisted atom probe tomography with varying laser pulse energy

Sprache
Englisch
Identifier
1221097962

Beteiligte Personen und Organisationen

DOI
10.18154/RWTH-2019-08307
URN
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
26.01.2023, 13:52 MEZ

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