Kurz gefasste Grundlagen der Partikelcharakterisierung und der Partikelabscheidung
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783826594496
3826594495
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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60 S.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
- Keyword
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Teilchenmesstechnik
Teilchen
Abscheidung
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:26 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Schmidt, Eberhard
- Shaker
Time of origin
- 2001